淺述偏光測量顯微鏡的調節(jié)與校正方法
更新時間：2022-09-16 點擊次數(shù)：852次
偏光測量顯微鏡用于檢測具有雙折射性的物質，如纖維絲、紡錘體、膠原、染色體等等。高聚物在熔融和無定形時呈現(xiàn)光學各向同性，即各方向上折射率相同，*不能通過檢偏片，因而視野全暗。當高聚物存在晶態(tài)或取向時，光學性質隨方向而異，產生雙折射，視野明亮，可以觀察到結構形態(tài)。在高聚物多相體系研究中，對于共混和共聚，如果其中有一相可以結晶，可用于偏光顯微鏡直接研究其多相體系的結構。
偏光測量顯微鏡的調節(jié)與校正：
選擇并裝配物鏡和目鏡：按需要選擇物鏡和目鏡，在安裝目鏡時注意其內十字絲的方向。
調節(jié)照明：打開光源燈，調節(jié)變壓器旋扭，直到亮度適度為止。
物鏡中心的校正：物臺旋轉軸、物鏡中軸、鏡筒中軸、目鏡中軸必須保持在一條直線上，偏光顯微鏡才能正常使用，目前有關物鏡中心的校正將由指導教師來完成。
焦準：將薄片置于物臺上，在教師指導下，用粗調或微調調焦至物象清晰。在此過程中，千萬注意，物鏡前透鏡不要與薄片接觸，以免打碎薄片或損壞鏡頭。
下偏光鏡的檢查：下偏光鏡的振動為東西向。當黑云母的解理平行下偏光鏡的振動方向時顏色最深，據(jù)此可以檢查、調節(jié)下偏光鏡的振動方向。
上偏光鏡的檢查：移去薄片，視域黑暗，說明上偏光振動方向與下偏光振動方向互相垂直。否則，需要進行調節(jié)，調節(jié)工作由指導教師來完成。
咨詢電話